Agent-almanac assess-ip-landscape

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T=$(mktemp -d) && git clone --depth=1 https://github.com/pjt222/agent-almanac "$T" && mkdir -p ~/.claude/skills && cp -r "$T/i18n/wenyan/skills/assess-ip-landscape" ~/.claude/skills/pjt222-agent-almanac-assess-ip-landscape-9a1f0b && rm -rf "$T"
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察 IP 地貌

繪技域或品區之 IP 地貌——識專利群、白地、要角、操自由險。生告研發向、許決、專利申之策評。

用時

  • 新技域研發前(何已宣?)乃用
  • 入有強專利庫之主者之市乃用
  • 備投資盡職察(IP 資察)乃用
  • 告專利申策(何地申、何宣)乃用
  • 察新品或功之 FTO 險乃用
  • 察對手 IP 動以策位乃用

  • 必要:待察之技域或品區
  • 必要:地理範(美、歐、全球)
  • 可選:特欲焦之對手
  • 可選:自有專利庫(隙析與 FTO)
  • 可選:時限(末五年、末十年、全時)
  • 可選:分類碼(IPC、CPC)若知

第一步:定搜範

立地貌析之界。

  1. 精定技域:
    • 核技區(如「transformer 式語言模」非「AI」)
    • 欲納之鄰(如「注機、分詞、推優」)
    • 欲排之(如注 NLP 則排「電腦視覺 transformer」)
  2. 識相關分類碼:
    • IPC(國際專利分類)——廣,全球用
    • CPC(合作專利分類)——細,美/歐標
    • 察 WIPO 之 IPC 刊或 USPTO 之 CPC 覽
  3. 定地理範:
    • 美(USPTO)、歐(EPO)、WIPO(PCT)、特國局
    • 諸析多始於美 + 歐 + PCT 為廣覆
  4. 設時窗:
    • 近動:末三五年(當競地貌)
    • 全史:十至廿年(熟技區)
    • 察過期專利重開設計空
  5. 書範為地貌章

得: 清限之範,具足生可行果而廣足捕相關競地貌。分類碼識以系搜。

敗則: 若技域過廣(千果),加技具或注特應區狹之。若過狹(少果),廣至鄰技。適範典生百至千專利族。

第二步:采專利數

集所定範內之專利數。

  1. 以地貌章查專利庫:
    • 免費:Google Patents、USPTO PatFT/AppFT、Espacenet、WIPO Patentscope
    • 商業:Orbit、PatSnap、Derwent、Lens.org(半免)
    • 合鍵字搜 + 分類碼為佳覆
  2. 系建搜查:
Query Construction:
+-------------------+------------------------------------------+
| Component         | Example                                  |
+-------------------+------------------------------------------+
| Core keywords     | "language model" OR "LLM" OR "GPT"       |
| Technical terms   | "attention mechanism" OR "transformer"    |
| Classification    | CPC: G06F40/*, G06N3/08                  |
| Date range        | filed:2019-2024                          |
| Assignee filter   | (optional) specific companies            |
+-------------------+------------------------------------------+
  1. 下果於結構式(CSV、JSON)含:
    • 專利/申請號、題、摘、申日
    • 持有者/申請者、發明者
    • 分類碼、引用數
    • 法狀(授、待、過、棄)
  2. 以專利族去重(聚同發明之諸國申)
  3. 記總專利族數與源庫

得: 結構化之專利族數於範內,已去重已時戳。此數為後續析之基。

敗則: 若庫訪限,Google Patents + Lens.org(免)供佳覆。若查返過多(>5000),加技具。若過少(<50),廣鍵或加分類。

第三步:析地貌

映專利群、要角、趨。

  1. 群析:按子技聚專利:
    • 以分類碼或鍵聚識五至十子區
    • 計每群專利族數
    • 識何群長(近申激)、何熟(平或降)
  2. 要角析:按下識十大持有者:
    • 總族數(庫廣)
    • 近申率(末三年——當動)
    • 均引計(專利質代)
    • 地理申廣(唯美對全球)
  3. 趨析:繪時窗申趨:
    • 年總申量
    • 按群按年申量
    • 新入(此域首申者)
  4. 引網:識最引專利(基 IP):
    • 高前引 = 後申重依
    • 此或為阻專利或要前藝
  5. 地貌圖:群、角、趨、要專利

得: 誰有何、動於何處、地貌如何演之清圖。要阻專利識。白地(少申之區)可見。

敗則: 若數少不可義聚,合群為廣組。若一持有者主(>50%),析其庫為獨子地貌。

第四步:識白地與險

自地貌取策見。

  1. 白地析(機):
    • 範內少無專利之技區
    • 設計空重開之過期族
    • 唯一者申之活區(先而無競)
    • 長群之鄰白地(下疆)
  2. FTO 險察(威)——自
    heal
    分流矩改:
    • 關鍵:授專利直覆擬品/功
    • :待申或授附相關宣
    • :鄰區授專利可廣釋
    • :過期、窄宣、或地理無關之申
  3. 競位
    • 自庫(若有)於對手如何?
    • 何對手於目區有阻位?
    • 何對手或欲交叉許?
  4. 策評:白地、FTO 險、位、薦

得: 可行策薦:何處申、何避、誰察、何險需詳 FTO 析。

敗則: 若識 FTO 險,此察為初——代專利律師之正 FTO 見。標關鍵險為法審。若白地似過佳(有值而無申),驗搜範未誤排相關申。

第五步:書而薦

裝地貌評予決者。

  1. 地貌報含:
    • 要(一頁:要發現、頂險、主薦)
    • 範與法(搜辭、庫、日範)
    • 地貌概(群、趨、要角附視)
    • 白地析(機依策值排)
    • 險評(FTO 憂依重排)
    • 薦(申策、許目、察警)
  2. 含支數:
    • 專利族列(結構、可排)
    • 群圖(視)
    • 申趨圖
    • 要專利要(最相關十至廿)
  3. 設續察:
    • 定關鍵區新申之警查
    • 設察率(活區季、穩區年)

得: 全地貌報使策 IP 決可能。報證本、清限、可行。

敗則: 若報過大,先生要而詳段待求。要當獨立為決文。

  • 地貌章定範、分類、地、時窗
  • 專利數自多庫采且去重
  • 群識附申計與趨向
  • 十大要角附庫指畫
  • 白地識且按策值排
  • FTO 險察且按重分
  • 要阻專利識附引析
  • 薦具而可行
  • 限承(察對正 FTO 見)
  • 續察警定

  • 範過廣:「AI 專利」非地貌——乃海。技與應宜具
  • 依單庫:無單庫有全覆。至少用二源
  • 忽專利族:計個申代族虛其數。一發明於十國申為一族,非十
  • 混申於授:待申非可執權。別授專利與刊申
  • 白地誤釋:空區或「無人試」或「諸皆試敗」。察而後假機
  • 地貌為法見:此技生策情報,非法諮。此標 FTO 險需專利律師正析

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    — IP 地貌商標面之商標衝察與辨性析
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    — EUIPO、USPTO、馬德里條約之商標申程
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